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专利名称一种硅-铌酸锂异质集成扫描芯片及其制备方法、应用
申请日2018-11-22
申请号/专利号CN201811396690.1
专利权人上海理工大学
申请人上海理工大学
发明人/设计人冯吉军;潘俊;孙宇;张福领;梁焰;曾和平
公告日2019-04-05
公告号CN109581584A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明提出了一种硅‑铌酸锂异质集成扫描芯片,包括铌酸锂衬底、二氧化硅包层和基于硅波导的芯层;二氧化硅包层附在铌酸锂衬底上;芯层包括光分束单元、弯曲波导、热光移相器和出射波导阵列;光分束单元、弯曲波导和出射波导阵列位于上述二氧化硅包层内;热光移相器置于二氧化硅包层上;热光移相器位于所述弯曲波导上;光分束单元包括多个基于硅波导的分束器。本发明将硅波导基片上与铌酸锂材料的异质集成,基于光学相控阵技术,采用热光调制从而改变波导折射率,进而使光束相位变化,出射方向发生偏转,从而获取1520纳米~1620纳米光通信波段的高速低损耗光调制芯片结构。本发明还提出了该芯片的制备方法和应用。
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