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专利名称一种快速检测波导插入损耗的耦合系统结构
申请日2018-10-30
申请号/专利号CN201821772653.1
专利权人派尼尔科技(天津)有限公司
申请人派尼尔科技(天津)有限公司
发明人/设计人华平壤;姜城
公告日2019-06-07
公告号CN208953743U
法律状态有效
专利类型实用新型
行业分类

摘要

一种快速检测波导插入损耗的耦合系统结构,包括光源和光纤A,所述光源通过所述光纤A射入偏振控制器。所述偏振控制器连接有保偏光纤B,所述保偏光纤B连接有待测样品,所述待测样品的输出端连接物镜,所述物镜连接红外电荷耦合元件,所述红外电荷耦合元件连接计算机显示器。所述保偏光纤B还连接有光功率计,所述待测样品的输出端还连接有保偏光纤C2,所述保偏光纤C2连接光功率计。本实用新型可以在不拆卸物镜的基础上更换保偏光纤C,使整个的工作流程更加便捷,确保了待测样品前后光纤的严密对焦,也避免了在拆卸过程中对光纤功率的影响。此外,还可以通过光功率计检测待测样品两端的光纤功率,从而测得波导的插入损耗。
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