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专利名称一种基于附加质量的微米光栅加速度计测试方法
申请日2013-09-13
申请号/专利号CN201310416339.5
专利权人北京航空航天大学
申请人北京航空航天大学
发明人/设计人王峥;冯丽爽;王潇;马迎建;姚保寅;刘惟芳
公告日2015-06-10
公告号CN103543294B
法律状态有效
专利类型发明
行业分类

摘要

本发明公开一种基于附加质量的微米光栅加速度计测试方法,首先,通过理论计算与仿真分析得到敏感头参数;将加速度计敏感头安装在测试台面上,同时在加速度计中心质量块上表面设置稳定台;然后选取附加质量块质量、数量及总重量;将附加质量块逐次放置在稳定台上,使加速度计输入加速度值由0g逐次增加至加速度计测量范围上限;逆序逐次去掉附加质量块,至加速度计的输入加速度值降回0g;随后取同一加速度输入的两次输出的平均值为对应加速度输出;最终,利用最小二乘法对加速度计各静态数学模型的系数进行计算,最终描绘测试曲线。本发明的优点为:有利于光学加速度计精度的提高;改善了测试环境;能够提高微米光栅加速度计标度因数的测试效率。
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