本发明提供了一种测试波导耦合器分光比的方法，将待测M×N型波导耦合器置于调整架上，并调节调整架，使得波导耦合器的输入端和单模光纤对准，输出端位于光斑测试仪接收面的中心；为波导耦合器通光，光斑测试仪扫描波导耦合器的输出端面的光场分布；将扫描得到的光场分布曲线拟合为N个相同形式的函数的和，对这N个函数分别求体积分，其体积分之比为待测波导耦合器的N个输出端的分光比。本发明方法不需要将耦合器输出端进行光纤耦合，测试所用整个装置结构简单，测试方便；且能同时得到波导耦合器输出端各个端口的光强，不存在单独耦合其中一个输出端所带来的耦合误差，所得到的分光比结果更准确。