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专利名称集成电路封装外壳封口环制备方法
申请日2019-12-10
申请号/专利号CN201911256928.5
专利权人石家庄恒融世通电子科技有限公司
申请人石家庄恒融世通电子科技有限公司
发明人/设计人史庄;康恒;辛旭辉;任继民;姚俊;马运星;李宁
公告日2020-02-21
公告号CN110828319A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本发明涉及一种集成电路封装外壳封口环制备方法,所述方法包括:(1)表面覆膜:将金属透明保护膜覆盖在清洁后的加工片上;(2)冲压成型:对表面覆膜的加工片进行冲压,得到带保护膜的封口环;(3)脱膜:将带保护膜的封口环在混合溶剂中浸泡、干燥处理后得到表面光滑平整的封口环。采用该方法时,冲压过程中产生的毛刺直接产生在覆膜封口环的保护膜外侧,在脱膜过程中也能将毛刺一并除去,使得封口环表面光滑平整,无需人工逐一打磨毛刺表面,不仅节约了人力还提高了效率。
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