本发明公开了一种集成电路芯片的检测系统和方法，该检测系统包括：为待测芯片的待测引脚提供测试信号的驱动源；根据待测引脚的类型选择驱动源的驱动源选择模块；用于将待测芯片的待测引脚连接至驱动源，并对待测芯片的其他引脚进行接地处理的引脚选择模块；用于采集待测引脚上的反馈信号，并对该待测引脚进行限压处理的电压采集与限压模块；及控制所述驱动源选择模块、引脚选择模块和电压采集与限压模块动作，并接收反馈信号以判断待测引脚的状态的处理模块。本发明可以快速检测出集成电路芯片的引脚状态，对带开路或短路引脚的芯片进行快速拦截，防止其流入下一道工序，提高芯片制造厂家的良品率，节省生产成本并保证了芯片的出厂质量。