本发明涉及一种用PartialMaxSAT求解器约简集成电路测试模式集的方法，属于数字电路测试技术领域。本方法首先利用TetraMAX自动测试模式生成工具生成测试模式集合；然后对测试模式集合中的每个测试模式得到其可以检测到的故障集，通过测试模式与可检测故障的对应关系矩阵生成PMS子句集合，将该集合作为输入，利用PartialMaxSAT求解器得到一个极小测试模式集，从而缩减测试集规模。本发明降低了芯片在开发中的测试花销，实现了测试模式集的规模的静态压缩，提高了测试效率，能加快电子产品上市时间。