本申请公开了一种集成电路测试系统及测试方法。所述集成电路测试系统，包括：探针卡，用于与待测目标相连；图形信号产生模块，与探针卡相连，用于产生测试信号；人机交互模块，与图形信号产生模块相连；其中，图形信号产生模块包括单片机和FPGA单元，通过人机交互模块将测试指令传递给单片机，单片机控制FPGA单元产生相应的测试信号，并将测试信号通过探针卡传递至待测目标。采用图形信号产生模块作为核心部件，以该模块中的单片机作为控制单元，控制FPGA单元产生相应的测试信号，从而可以大幅度缩减测试系统的体积，降低成本，增强其可靠性和易用性。