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专利名称一种用于高分子聚合物正系数温度元件的测试装置
申请日2019-10-18
申请号/专利号CN201910993621.7
专利权人厦门芯泰达集成电路有限公司
申请人厦门芯泰达集成电路有限公司
发明人/设计人张朝霖;冼贞明;张逸群
公告日2019-12-13
公告号CN110568338A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本发明涉及电子元器件测试技术领域,特别涉及一种用于高分子聚合物正系数温度元件的测试装置,包括微控制器、人机交互界面组件、可程序直流电源供应器、通讯模块、分流器、A/D模块以及PPTC测试组件;PPTC测试组件包括电路基板、设于电路基板上的测试连接单元、与测试连接单元为可插拔连接的PPTC测试板。本发明提供的用于高分子聚合物正系数温度元件的测试装置,采用无触点开关元器件,整体体积小,在组装上也更为容易;同时从传统的电气配线改为印刷电路形式,将ZIF测试座以及无触点开关元器件焊接到印刷电路板上,不仅可以免除额外配置电力线,减少电线的费用,更可以避免人工组装时间过长的问题,也方便后续维护。
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