本申请涉及半导体集成电路设计和测试技术领域，具体涉及一种用于非挥发性存储器的测试校调方法及测试校调电路。用于非挥发性存储器的测试校调方法包括：接收控制信号；根据所述控制信号确定工作模式；从非挥发性存储器中读出修整数据；当所述工作模式为用户模式时，验证所述修整数据与前次写入所述非挥发性存储器中的数据是否一致；一致时，发送反馈信号。用于非挥发性存储器的测试校调电路包括：接口模块、模式控制模块、测试模块和响应分析模块；所述接口模块用于接收控制信号。本申请通过选择工作模式后从非挥发性存储器的OTP区中自动载入修整数据，从而能够简化用户模式下的验证流程。