本发明公开了一种保护集成电路测试连接线的方法，包括检测设备和保护设备，所述检测设备的内部固定连接有集成电路，包括以下步骤：步骤一、将连接线穿过保护套，并且对连接线进行整理，步骤二、将保护套和连接线穿过保护设备，并且将连接线的两端与检测设备和其余设备进行连接，步骤三、将保护设备与检测设备通过电缆线进行连接，然后对保护设备进行重置和调试，步骤四、在检测集成电路的时，每隔15s～30s观察一次保护设备，本发明涉及集成电路测试技术领域。该保护集成电路测试连接线的方法，在连接线的外侧套设有保护套，对连接线暴露在外侧的部位进行良好的保护，并且可以防止电线发生缠绕、重叠或被外力破坏等问题。