本发明公开了一种集成电路布局数据的处理方法，具体包括以下步骤：S1、挑选与待测试芯片型号相匹配的测试机台，然后再将N个需要进行测试的集成电路芯片放置在测试机台上，通过测试机台上的测试探针对集成电路芯片进行性能测试，测试完成后，生成N个测试结果，然后将这些测试结果发送至数据库内进行存储，本发明涉及集成电路数据处理技术领域。该集成电路布局数据的处理方法，可实现对数据库内的集成电路数据进行重新排列布局，且在布局的过程中进行校验工作，保证了数据的完整性，同时也提高了布局数据的处理效率，避免集成电路布局失真的问题，节约了人力和物力，保证了后续集成电路的正常使用工作。