本发明公开了一种集成电路测试数据融合分析方法，第一步、首先建立相应的结果数据库，完成之后通过测试设备对待测试的集成电路进行测试，测试结果在经过对比单元进行对比后会直接通过无线收发单元传递给数据接收单元，对比单元会将测试数据分为合格和不合格两大类，然后传递给预处理单元，这时异常数据清除模块首先会对测试中的异常数据进行清除，然后通过压缩单元对测试数据进行压缩；本发明涉及集成电路技术领域。该集成电路测试数据融合分析方法，能够直接将测试的数据进行传输，然后对数据进行压缩，降低了整体内存的同时也便于数据的传输，保证了集成电路测试数据的融合性，提高了集成电路测试数据融合分析的效果。