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专利名称一种加速软件trace信息提取的采样方法
申请日2019-09-27
申请号/专利号CN201910922145.X
专利权人东南大学;东南大学—无锡集成电路技术研究所
申请人东南大学;东南大学—无锡集成电路技术研究所
发明人/设计人凌明;高小洁;申山;王学香
公告日2020-02-11
公告号CN110781062A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本发明提出一种加速软件trace信息提取的采样方法,涉及计算机体系结构与建模技术领域。本发明提出的采样方法,实现对软件trace信息进行两级采样,包括:第一级为区间采样,包括程序特征向量的采集和归一化处理、在线阶段分类、以及采用指数变化步长的采样方法;第二级为区间内采样,包括采样区间内trace信息的采集和存储。该采样方法面向处理器解析模型所需的trace信息提取,通过采集trace信息中具有代表性片段的软件特征信息,提升trace信息的分析统计速度,减少利用二进制分析工具提取trace信息的耗时,有效提高采用解析模型进行处理器性能分析的效率。通过合理配置两级采样的各类参数,可以保证较高的性能评估准确度,并可降低10倍左右的trace信息分析统计时间开销。
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