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专利名称一种在线校准晶圆微纳米台阶高度标准样板及其循迹方法
申请日2019-09-26
申请号/专利号CN201910920159.8
专利权人西安交通大学
申请人西安交通大学
发明人/设计人王琛英;张雅馨;蒋庄德;景蔚萱;林启敬;刘明;张易军;韩枫;毛琦;王松;杨亚威
公告日2020-02-14
公告号CN110793433A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本发明公开了一种在线校准晶圆微纳米台阶高度标准样板及其循迹方法,用于实现在线校准,样板包括中心工作区域及第一、第二循迹区域;通过所述微纳米台阶高度标准样板的第一循迹区域和第二循迹区域内的等腰三角形循迹标识的指向配合设计单位标识确定样板的摆放方向与中心工作区域位置;通过所述中心工作区域内台阶结构左右两侧区域设置的四种循迹定位参考图形快速定位台阶结构位置,通过台阶结构两边对称设置的校准定位块快速定位台阶测量位置,完成整个定位过程。该样板上的台阶结构是在晶圆片上直接制备,并且台阶测量区域可通过循迹标记快速定位,因此该发明实现了对微电子集成电路产线中纳米测量仪器的在线溯源校准工作,大大提高了仪器校准效率。
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