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专利名称一种氮化镓MMIC功率放大器芯片的加工工艺
申请日2019-09-25
申请号/专利号CN201910907931.2
专利权人同辉电子科技股份有限公司
申请人同辉电子科技股份有限公司
发明人/设计人李会杰;王静辉;田志怀;李晓波;白欣娇;李婷婷;张江鹏
公告日2019-12-17
公告号CN110581061A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

一种氮化镓MMIC功率放大器芯片的加工工艺,属于集成电路芯片制造的技术领域,包括对基片逐步进行光刻桥墩、清洗、溅射钛金金属层、光刻桥面、电镀、去胶、腐蚀钛金金属层、二次去胶,关键在于,所述的腐蚀钛金金属层工序包括将基片置于腐蚀液A和腐蚀液B中进行腐蚀,腐蚀液A或腐蚀液B腐蚀时,基片振动频率15‑30次/分钟,腐蚀时间55‑60s,控制环境温度为22±2℃、湿度为55±5%RH;所述金属腐蚀液A按照碘:碘化钾:异丙醇:纯水=1:1:3:2的质量比配制;所述的腐蚀液B按照氢氟酸、双氧水、水=1:1:10的质量比配制,本发明能够对金属进行充分腐蚀,腐蚀的效果良好,能够完美达到工艺的要求。
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