本发明公开了一种集成电路测试设备机时管理系统，包括控制中心和电路测试中心，控制中心和电路测试中心实现双向连接，所述控制开关与检测中心实现双向连接，检测中心与机时模块实现双向连接，所述机时模块与机时检测控制中心实现双向连接，本发明涉及集成电路技术领域。该集成电路测试设备机时管理系统，通过控制中心和电路测试中心实现双向连接，可以大幅度加强机时计时设备的监控能力，不管集成电路测试设备如何运行或者工作都能第一时间得知，并进行正常运行还对使用时间进行记录，避免了丢失工作数据，让人们使用起来更加方便，这解决了目前现有的集成电路测试设备机时管理系统检测及监控措施做得不够好的问题。