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专利名称一种硅基三维扇出集成封装方法及结构
申请日2019-09-16
申请号/专利号CN201910870925.4
专利权人中国电子科技集团公司第五十八研究所
申请人中国电子科技集团公司第五十八研究所
发明人/设计人王成迁;明雪飞;吉勇
公告日2019-11-22
公告号CN110491853A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本发明公开一种硅基三维扇出集成封装方法及结构,属于集成电路封装技术领域。首先提供背面沉积有截止层的硅基,在所述截止层上键合玻璃载板;接着在所述硅基正面刻蚀出凹槽和TSV通孔,在凹槽中埋入母芯片并用干膜材料填满;然后将若干个子芯片焊接到所述硅基正面,并塑封整个硅基正面;去除所述玻璃载板和所述截止层,在所述母芯片和硅基背面分别刻蚀凹槽并埋入子芯片;再用干膜材料填满,在子芯片的焊盘处开口,完成n层布线;最后制作阻焊层和凸点,最后减薄、切割完成封装。
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