本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种集成芯片的引脚连通性的检测方法，步骤S1、提供一集成芯片，集成芯片提供一通用输入输出接口；步骤S2、提供一终端设备，终端设备提供一输出引脚，输出引脚与通用输入输出接口一一对应连接；步骤S3、通过切换通用输入输出接口的高低电平状态，检测输出引脚的电平状态，以判断集成芯片与终端设备的线路连接关系。有益效果：检测集成芯片的外围电路的引脚连通性，减少硬件的操作难度，观察方便，测试结果准确，进一步提高了调试进度。