本发明涉及一种基于网表的超大规模芯片信息分析方法，包括以下步骤：读入设计的完整网表，并根据该完整网表构建内部网表数据结构；指定所述内部网表数据结构任意一层作为顶层，自该顶层向下遍历并提取每一层次的信息，直到最底层晶体管；从提取出的信息中获取晶体管信息，并进行分类汇总。本发明可以快速准确的完成网表内容分析与信息统计。