本发明属于自动化测试技术领域，公开了一种可重构集成电路板级自动测试系统及其设计方法，ASIC采集板，与直流稳压电源、ASIC参数综合测试仪连接，用于针对不同的模数混合ASIC芯片采集相应数据；直流稳压电源，与ASIC采集板、ASIC参数综合测试仪连接，用于提供电力支持；ASIC参数综合测试仪，与ASIC采集板、直流稳压电源、测控、数据处理计算机连接，用于进行ASIC芯片性能测试；测控、数据处理计算机，与ASIC参数综合测试仪连接，用于接收下传数据进行处理同时通过上位机软件对芯片进行控制。本发明有效解决面向不同ASIC对象下处理数据方法差异到来的步骤繁琐、分析滞后问题，实现了高效率的实时处理。