本发明提供一种集成电路芯片测试系统及方法，涉及集成电路芯片测试技术领域。该系统包括：第一测试设备、第二测试设备、采集设备、存储设备和计算设备，第一测试设备、采集设备、存储设备和第二测试设备之间依次电连接，且计算设备分别与第一测试设备、第二测试设备、采集设备和存储设备电连接；计算设备用于对第一测试设备、第二测试设备、采集设备和存储设备进行控制，采集设备在第一测试设备接入预设集成电路芯片时，采集针对预设集成电路芯片的运行信号，并将运行信号存储至存储设备；第二测试设备从存储设备获取运行信号，并基于运行信号对待测集成电路芯片进行测试。本公开能够提高测试待测集成电路芯片的准确性。