本发明提供了一种基于单片机的开短路漏电测试仪，涉及集成电路封装测试技术领域，包括电源单元、主控单元、DA转换单元、模式切换单元、测试单元和AD转换单元；所述主控单元的输入端与所述电源单元连接，所述主控单元的输出端与所述DA转换单元连接，所述模式切换单元的输入端与所述主控单元的输出端连接，所述模式切换单元的输出端与所述DA转换单元的输入端连接，所述DA转换单元的输出端与所述测试单元的输入端连接，所述测试单元的输出端与所述AD转换单元的输入端连接，所述AD转换的输出端与所述主控单元的输入端连接。具备开短路测试和漏电测试的功能，可以高效快速地完成这两个测试，因而达到快速检测封装产品中可能存在的电性物理缺陷。