本发明涉及一种集成电路测试设备的多功能测试板及测试方法，该多功能测试板包括加载板、测试主板以及接口板，加载板与测试仪连接，测试主板分别与加载板以及接口板连接，接口板通过夹具与集成电路连接，测试主板上设有待测集成电路U1以及切换元件，加载板与切换元件连接，切换元件与接口板连接，接口板与待测集成电路U1连接；加载板与接口板连接；通过切换该切换元件，以使加载板与接口板及待测集成电路U1之间不同通道连接，以进行不同集成电路的测试。本发明可同时测试多个同类型或不同类型的集成电路，测试成本低、周期短、效率高；覆盖多种电参数测试，测试结果可靠性强；采用语音反馈测试结果，更加直观、人性化。