本实用新型涉及夹具技术领域，且公开了抵御静电不良影响的芯片测试夹具，包括底座，所述底座的顶部活动套装有支撑柱，所述支撑柱的外表面固定套装有从动转盘，从动转盘的外表面开设有卡槽，从动转盘的顶端固定连接有固定台，固定台的两侧均活动套装有固定杆，两个固定杆相靠近的一端均固定连接有固定柱，两个固定柱的顶端均贯穿固定台并延伸至固定台顶端的外部，两个固定杆相远离的一端均固定连接有固定把手。该抵御静电不良影响的芯片测试夹具，通过设置从动转盘、卡槽主动转盘和连接杆，利用从动转盘、卡槽主动转盘和连接杆的相互配合使固定台间歇转动，从而便于测试人员或测试设备对芯片的四个面进行测试。