本发明公开了一种优化集成电路筛选的方法，包括以下步骤：设置一个质量因数，在测试过程中把重要参数的测试值提取出来，存入储存器中；在储存器中已经测试的电路的参数值形成一个在不断增加的样本集合,读出样本集合并根据样本情况去计算每个电路的质量因数；利用统计学的标准，对比判断电路的质量因数，并根据质量因数的情况，进一步设定区分良品电路的二次筛选条件，本发明仅通过增加概率统计分析的环节，在测试过程中把良品进行再筛选，更准确的分析判断了电路的性能，不需要后期再进行人工筛选分析，而且该方法非常灵活，不同批次的电路都可以按照此方法进行筛选，并且筛选标准还可以根据不同产品的要求改动，增加测试结果的可靠性。