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专利名称基于改进型三模冗余系统的抗多位翻转错误芯片加固方法
申请日2018-12-28
申请号/专利号CN201811618268.6
专利权人中国工程物理研究院电子工程研究所
申请人中国工程物理研究院电子工程研究所
发明人/设计人贺迅;刘友江;马建平;解楠;周劼
公告日2019-04-23
公告号CN109669823A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本发明公开了一种基于改进型三模冗余系统的抗多位翻转错误芯片加固方法,涉及数字集成电路技术领域。本发明通过比较数字集成电路内部寄存器的状态值,进而判断发生单粒子翻转的寄存器,通过表决器,输出控制信号,将未发生单粒子翻转的数字集成电路的寄存器值复制到已发生单粒子翻转的寄存器,完成数字集成电路纠错的功能。
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