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专利名称形成集成电路阱结构的方法
申请日2018-12-27
申请号/专利号CN201811613412.7
专利权人美光科技公司
申请人美光科技公司
发明人/设计人迈克尔·瓦奥莱特;弗拉迪米尔·米哈廖夫
公告日2019-07-19
公告号CN110034121A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

形成集成电路的一部分的方法包含:形成具有开口且暴露半导体材料的表面的经图案化掩模;穿过所述开口在所述半导体材料的第一层级处形成第一经掺杂区域;及各向同性地移除所述经图案化掩模的一部分以增加所述开口的宽度。所述方法进一步包含:在各向同性地移除所述经图案化掩模的所述部分之后穿过所述开口在所述半导体区域的第二层级处形成第二经掺杂区域,其中所述第二层级比所述第一层级更靠近于所述半导体材料的所述表面。
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