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专利名称一种提高测试效率的ATE测试模式
申请日2018-12-27
申请号/专利号CN201811607629.7
专利权人上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请人上海华岭集成电路技术股份有限公司
发明人/设计人薛来熙;吴勇佳;余琨;季海英;蔡漪文;王静
公告日2019-06-14
公告号CN109884498A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本发明公开了一种提高测试效率的ATE测试模式,本技术方案由2部分构成:数据处理用的电脑及数据传输使用的网络路由器;将ATE测试电脑及数据处理电脑,通过网线接到数据传输路由器上,构成局域网,并将数据处理电脑的某个硬盘,通过局域网共享给ATE测试电脑使用,该硬盘为备份硬盘;本发明提供的提高测试效率的ATE测试模式,该模式是将采集数据、数据分析和处理及返回测试Bin进行分开,ATE将所需数据采集完,就可空出ATE,用于其他的集成电路测试,这样可以提高ATE的测试效益;数据采集完,存档在另一台电脑中,也可避免因大数据处理中,ATE电脑死机时,造成数据丢失。
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