本发明公开了一种数字集成电路测试系统中采集通道同步性检测方法，根据需要选择一个通道作为基准通道，其余作为待检测通道，将数字集成电路测试系统的工作时钟降频后作为校准信号，将校准信号进行延时后发送到基准通道和待检测通道，且延时按照预设调整步长增加，将工作时钟进行倍频作为采样时钟，对基准通道和第n个待检测通道的采集信号进行采样，根据延时增加过程中基准通道和待检测通道所得到的采样信号进行判断，从而确定待检测通道相对于基准通道的延时。本发明能够检测小于采样周期的通道延时，测量精度由延时精度决定，可以大大降低对采样时钟频率的要求，降低整个方法的实现复杂度。