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专利名称离子注入层热点结构OPC变换处理方法
申请日2018-12-24
申请号/专利号CN201811581017.5
专利权人上海华力集成电路制造有限公司
申请人上海华力集成电路制造有限公司
发明人/设计人张月雨;康萌
公告日2019-03-08
公告号CN109445252A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本发明公开了一种离子注入层热点结构OPC变换处理方法,包括如下步骤:步骤S1,获取原始版图;步骤S2,进行图形选择,得到热点结构;步骤S3,根据热点结构的特点对其进行结构变换,得到低风险的新版图图形;步骤S4,对新版图图形进行正常OPC处理,得到掩膜层。本发明通过结构特点定义并选出问题热点结构,并针对不同的热点结构进行相应的截断变换,从而将问题热点图形变换为风险较低的图形结构,有效地改善离子注入层中容易导致工艺问题的热点结构,增加工艺窗口,提高成品率。
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