本发明涉及一种芯片焊接故障快速精确定位的方法，基于IEEE1149.1标准的边界扫描测试技术原理，采用走步算法基本思路、提供了一种通用的测试编程思路，达到在不同电路板上快速移植测试的目的。可在不同边扫器件之间，边扫器件与存储器之间快速移植测试。本方法主要应用在集成电路测试领域，主要用于解决高密度电路板上芯片焊点出现故障时，由于电路原理的复杂性和芯片可测试性造成的故障难于准确定位的难题。