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专利名称高精度温度传感器矩阵测试系统
申请日2018-12-20
申请号/专利号CN201822164212.X
专利权人锦州七七七微电子有限责任公司
申请人锦州七七七微电子有限责任公司
发明人/设计人刘立;刘宇明;刘禹龙
公告日2019-08-27
公告号CN209311633U
法律状态有效
专利类型实用新型
行业分类集成电路

摘要

一种高精度温度传感器矩阵测试系统,在PCB矩阵板上设置15个呈矩阵分布的双刀继电器、电源接线柱、矩阵控制端、温度传感器测试端和数据流输出端,双刀继电器形成30位矩阵开关组,还包括程控电源、程控开关、程控万用表、DUT插座、恒温槽,所述数据流输出端与程控万用表连接,所述程控电源、所述继电器的常开接点、温度传感器测试端、DUT插座和程控万用表构成测试回路,所述程控开关和双刀继电器线圈串接后连接继电器组供电系统,所述程控电源、程控开关和程控万用表通过GPIB连接线与上位机连接。可实现混合集成电路的自动化测试,缩短了混合集成电路的测试时间,而且节省了人力资源,减轻了测试操作工的劳动强度,从精度和准确度上都有很大程度的提高。
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