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专利名称一种基于摄像头测量长度的方法及装置
申请日2018-12-13
申请号/专利号CN201811525536.X
专利权人上海集成电路研发中心有限公司
申请人上海集成电路研发中心有限公司
发明人/设计人余学儒;李琛;王鹏飞;段杰斌;王修翠;傅豪
公告日2019-04-26
公告号CN109682312A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本发明公开了一种基于摄像头测量长度的方法,包括如下步骤:S01:在物体中选取待测长度的两个端点,调整各个摄像头的焦距进行拍摄;S02:在摄像头阵列中选取任意两个摄像头,形成一个计算对,根据计算对中两个摄像头的坐标以及对应的拍摄图片,分别计算出图片中待测长度两个端点对应的三维坐标;S03:处理单元根据待测长度两个端点中的三维坐标计算这两个端点之间的长度;S04:夹角测量设备带动摄像头阵列中所有摄像头同时进行旋转,重复步骤S01‑S03。本发明提供的一种基于摄像头测量长度的方法及装置,能够利用摄像头阵列计算物体空间的三维坐标,并利用夹角测量设备矫正存在的偏角,进而计算长度。
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