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专利名称一种测试结构及一种后段金属互连可靠性的测试方法
申请日2018-12-09
申请号/专利号CN201811502538.7
专利权人枘熠集成电路(上海)有限公司
申请人枘熠集成电路(上海)有限公司
发明人/设计人不公告发明人
公告日2019-03-01
公告号CN109411383A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本发明提供了一种基于多晶硅加热的测试结构以及一种金属互连工艺的可靠性测试方法,采用监测电阻温度系数来替代传统后段金属互连可靠性的测试方法,通过采用局部多晶硅加热方式实现了晶圆级测试和实时在线监测,避免了整片晶圆因烘烤而报废,相比传统测试时间缩短了2个数量级时间。最后结合一套优异的数据分析手段实现了线上金属互连可靠性快速异常诊断和监测,有效地增强了制程开发,产品量产,线上监测等工艺流程。
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