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专利名称高加速应力筛选试验的剩余寿命评估与可靠性分析方法
申请日2018-12-08
申请号/专利号CN201811499195.3
专利权人西安电子科技大学
申请人西安电子科技大学
发明人/设计人王海东;孔宪光;马洪波;钟健飞;杨胜康;王肇喜
公告日2019-05-21
公告号CN109783850A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本发明属于高加速应力筛选试验技术领域,公开了一种高加速应力筛选试验的剩余寿命评估与可靠性分析方法;采用有限元分析软件进行实体建模;对筛选对象模型按照高加速寿命筛选(HASS)试验中的破坏极限和工作极限进行加载;根据确定的破坏极限和工作极限分别在温度和振动应力下进行有限元仿真分析,得到不同应力水平下的损伤因子和等效寿命;对筛选对象失效模式和失效时间进行整理统计与分析,选择可靠性分析模型;构建温度和振动应力下的综合累计损伤因子,计算等效寿命,得到HASS剖面下的可靠性模型,对经过HASS试验的对象进行剩余寿命评估和可靠性分析。
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