本实用新型公开了一种电源模块的并行测试装置，涉及芯片测试装置领域，包括夹持机构、第一检测机构和第二检测机构，所述夹持机构用于放置待检测的芯片并夹持住芯片的引脚，所述第一检测机构和第二检测机构用于对芯片进行检测，第一检测机构和第二检测机构之间相互并联设置，第一检测机构和第二检测机构均电性连接夹持机构，夹持机构、第一检测机构和第二检测机构对应设置且数量彼此相等，本实用新型可以同时对多个芯片进行测试，具有两套独立的测试系统，双重选择，测试多样化，装置易安装，测试效率高。