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专利名称一种光电探测器及其制作方法
申请日2018-11-29
申请号/专利号CN201811441933.9
专利权人中国科学院微电子研究所
申请人中国科学院微电子研究所
发明人/设计人王桂磊;亨利·H·阿达姆松;熊文娟
公告日2019-05-10
公告号CN109742183A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本发明涉及半导体集成电路工艺技术领域,尤其涉及一种光电探测器及其制作方法,该方法包括:在第一衬底上沉积SiN波导传输层,形成第一结构;在第二衬底上制作PIN器件结构层,形成第二结构;将第二结构的PIN器件结构层与第一结构的SiN波导传输层连接;去掉第二衬底,在PIN器件结构层上制作PIN结构,形成光电探测器,其中,传输层上形成有波导结构,通过采用SiN作为传输层来设置波导结构,降低了该SiN波导传输层的波导结构在光传输过程中的损耗,提高了该光探测器的光传输的效率;进一步,还通过分别制备第一结构和第二结构,再连接SiN波导传输层和PIN器件结构层,解决了SiN上不易生长PIN器件结构层的问题,提供了一种含SiN的传输层上制备PIN结构的新工艺。
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