本申请涉及集成电路领域，公开了一种存储器及存储器的功能测试方法。此存储器包括具有N个独立存储块存储体、行列地址译码器、读写控制器、模式选择器和块选择器，所述存储器具有第一模式和第二模式两种工作状态，在所述模式选择器向所述读写控制器输出表示第一模式的信号时，所述读写控制器对所述块选择器选择的一个独立存储块读写数据；在所述模式选择器向所述读写控制器输出表示第二模式的信号时，所述读写控制器对所述N个独立存储块同时读写数据。在使用相同的外部测试设备及拥有相同存储容量的情况下，本申请涉及的存储器可以显著的缩短测试时间。