本实用新型公开了一种集成电路测试载板，包括测试载板本体、固定螺纹座、螺纹盖和限位柱，所述测试载板本体通过连接片和固定螺纹座连接，所述测试载板本体上侧设置有接口，所述固定螺纹座和螺纹盖螺纹连接，所述固定螺纹座内壁设置有滑轨，所述滑轨通过滑块和接触垫连接，所述螺纹盖内壁上侧设置有连接座，所述连接座和伸缩筒螺纹连接，所述伸缩筒内部设置有弹簧，所述弹簧另一端通过限位盘和伸缩杆连接，所述伸缩杆下端穿出伸缩筒上的通孔并和压板连接，所述螺纹盖上侧通过转轴和挡板连接，所述挡板下表面的凹槽内粘接有密封圈。本实用新型通过滑块滑动设置在滑轨上，滑块和接触垫为一体结构，很好的提高了接触垫升降的稳定性。