本发明提供一种逻辑扫描老化测试系统。所述系统包括测试访问端口、多个控制器以及与每个控制器对应的模块内部老化测试相关控制电路，其中，所述测试访问端口为状态控制器，与每个控制器连接，用于控制捕获、移位或更新状态的跳转；所述控制器，与所对应的模块内部老化测试相关控制电路连接，用于产生老化测试需要的控制信号并发送给所述模块内部老化测试相关控制电路，并将所述模块内部老化测试相关控制电路生成的老化测试的结果发送给所述测试访问端口；所述模块内部老化测试相关控制电路，用于根据所述控制器产生的老化测试需要的控制信号，对待测电路进行老化测试，生成老化测试的结果。本发明能够降低芯片逻辑扫描老化测试的成本。