本实用新型公开了一种集成电路的测试装置，包括底座、定位机构、检测架和测试机构，所述测试机构包括安装板和检测机体，所述检测机体固定在安装板的上表面，所述安装板的下表面中间安装有检测探针，所述安装板的下表面四个拐角处均固定有导向杆，所述导向杆的圆周外部插接有弹簧，所述检测架位于测试机构的下方，所述检测架包括架体，所述架体的上表面靠近四个拐角处均开设有竖直通孔，本实用新型设置了推拉机构、定位机构以及载板机构，推拉机构通过推拉载板机构来将载板主体推出凹槽，从而方便了工作人员将需要检测的集成电路放置到载板主体上，便捷了操作，并且定位机构可以将集成电路进行夹紧，使得集成电路能够被定位，定位方便。