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专利名称测试装置、测试系统、测试方法以及制造集成电路的方法
申请日2018-11-20
申请号/专利号CN201811388275.1
专利权人三星电子株式会社
申请人三星电子株式会社
发明人/设计人李在卨;洪基玉;郑海成
公告日2019-07-12
公告号CN110008765A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

提供了一种测试系统。该测试系统包括:板,设置有近场通信芯片并包括天线;标签保持装置,包括分别容纳第一NFC标签和第二NFC标签的第一标签保持器和第二标签保持器,以及被配置为调整第一标签保持器和第二标签保持器中的每一个的位置的第一控制器;以及第二控制器,被配置为:将第一测试信号发送给测试板,以执行针对NFC芯片和第一NFC标签的第一通信测试;接收第一通信测试的结果;并确定NFC芯片是否正常读取存储在第一NFC标签中的第一数据。第一控制器被配置为将第一NFC标签和天线放置成彼此间隔开基于第一NFC标签的类型的第一距离并且彼此面对,并且当完成第一通信测试时使第一标签保持器和第二标签保持器旋转。
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