本实用新型公开了一种针对特定封装集成电路的工作寿命测试板，包括测试板本体，所述测试板本体的前表面固定有卡位，所述测试板本体的前表面靠近所述卡位的内侧固定有引脚测试片，所述引脚测试片的前表面开设有通道，所述引脚测试片的前表面靠近所述通道的外侧固定有固定板，所述测试板本体的外侧固定有定位圈，所述定位圈的外侧固定有连接板，所述连接板的外侧固定有锁扣；本实用新型设置了连接板、连接管、锁扣和凸块，通过连接板和连接管可以将锁扣和凸块与测试板本体连接在一起，再通过锁扣和凸块直接将测试板本体与测试机连接在一起，使得工作人员组装或拆卸起来更方便，从而达到便于工作人员进行使用的目的。