本发明公开了一种集成电路离板高度测量装置，包括：检测平台、托架侧壁安装板、托架、水平模块、垂直模块和数显千分尺，所述检测平台、托架侧壁安装板和托架围设成第一空间用于安装水平模块和垂直模块；所述水平模块的斜面和所述垂直模块的斜面相配合；所述垂直模块包括底座和导向柱，所述检测平台上开设有导向孔，所述导向柱可穿过所述导向孔做垂直运动；所述数显千分尺固定安装在所述托架侧壁安装板上，通过旋转数显千分尺，与所述托架侧壁安装板相接触的水平模块可受到水平作用力。本发明还提供了一种集成电路离板高度测量方法。通过本发明，可对集成电路离板高度实施快捷、精确而高效的无损检测。