本发明涉及一种基于ATE的芯片测试方法，适于对S698PM芯片SRAM进行测试，属于集成电路测试技术领域。该方法包括如下步骤：A.使用仿真器编译芯片测试代码并进行相关配置，得到仿真配置文件；B.运行得到的仿真配置文件进行仿真，记录相关信息，得到仿真文件；C.将仿真文件转换为ATE测试机台兼容的矢量文件；D.将芯片连接至ATE测试机台，导入得到的矢量文件，启动预置的ATE测试程序并根据芯片测试规范进行相关配置；E.配置好ATE测试程序后，选择待测试项，运行ATE测试机台对SRAM进行相应测试。该方法可以快速精确地发现芯片的异常现象，提高SOC芯片测试效率，缩短测试周期，降低测试成本。