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专利名称一种集成电路测试的检测平台
申请日2018-11-01
申请号/专利号CN201821791929.0
专利权人广州树阳电子科技有限公司
申请人广州树阳电子科技有限公司
发明人/设计人邹德顺;王丽娜
公告日2019-07-12
公告号CN209102315U
法律状态有效
专利类型实用新型
行业分类集成电路

摘要

本实用新型公开了一种集成电路测试的检测平台,包括底板和位于其上方的活动板,所述底板的顶端四角均安装有伸缩柱,伸缩柱的顶端连接有活动板,底板的顶端中间位置转动连接有垂直设置的第一螺纹杆,第一螺纹杆的侧壁底端安装有第一转动手柄,第一螺纹杆上螺纹连接有连接环,连接环的两侧侧壁上均铰接有连接杆,连接杆的顶端铰接在活动板的底端侧壁上,所述活动板的顶端两侧均焊接有垂直设置的侧板,两个侧板之间滑动连接有水平设置的安装板。本实用新型能够对检测平台的高度进行调整,方便适应不同高度的测试人员,能够带动集成电路进行振动,检测集成电路的抗振性能。
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