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专利名称用于高级集成电路结构制造的蚀刻停止层形貌
申请日2018-10-31
申请号/专利号CN201811298090.1
专利权人英特尔公司
申请人英特尔公司
发明人/设计人A·W·杨;R·布雷恩;M·L·哈藤多夫;C·P·奥特
公告日2019-06-07
公告号CN109860101A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本公开的实施例处于高级集成电路结构制造的领域,并且尤其是10纳米节点和更小集成电路结构制造和所得结构的领域。在示例中,一种集成电路结构包括处于衬底上方的层间电介质(ILD)层中并由层间电介质层间隔开的多个导电互连线。多个导电互连线中的个体导电互连线具有低于ILD层的上表面的上表面。蚀刻停止层在ILD层和多个导电互连线上并与其共形,蚀刻停止层具有非平面上表面,该非平面上表面的最上部分在ILD层之上,并且该非平面上表面的最下部分在多个导电互连线之上。
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