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专利名称用于高级集成电路结构制造的外延源极或漏极结构
申请日2018-10-31
申请号/专利号CN201811297813.6
专利权人英特尔公司
申请人英特尔公司
发明人/设计人S·乔希;M·J·杰克逊;M·L·哈藤多夫
公告日2019-06-07
公告号CN109860186A
法律状态审中
专利类型发明
行业分类集成电路

摘要

本公开的实施例属于高级集成电路结构制造的领域,并且具体而言属于10纳米节点和更小的集成电路结构制造和所得结构的领域。在示例中,一种集成电路结构包括:包括硅的鳍状物,所述鳍状物具有下鳍状物部分和上鳍状物部分。栅极电极在所述鳍状物的所述上鳍状物部分之上,所述栅极电极具有与第二侧相对的第一侧。第一外延源极或漏极结构在所述栅极电极的所述第一侧嵌入于所述鳍状物中。第二外延源极或漏极结构在所述栅极电极的所述第二侧嵌入于所述鳍状物中,所述第一和第二外延源极或漏极结构包括硅和锗并具有火柴棍轮廓。
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