本公开描述了用于测试集成电路的方法和装置。在一些方面中，片上系统(SoC)的测试引擎从多芯片模块的外部测试端口接收测试触发。多芯片模块包括SoC和集成电路系统。响应于接收到测试触发，测试引擎启动与集成电路系统相关联的测试的执行。测试引擎还生成与测试相关联的测试数据，并在MCM的外部测试端口处提供测试数据。以这种方式，可以在多芯片模块内执行内部测试。在其他方面中，SoC和集成电路系统未被封装在一起。测试引擎可以从SoC的测试端口接收测试触发并启动测试的执行。以这种方式，SoC可以充当用于集成电路系统的测试仪器。